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2020年7月23日,上海計量院作為課題負責單位參與的國家重點研發計劃 “製造基礎技術與關鍵部件”重點專項“矽基 MEMS 高深寬比三維結構的幹涉顯微無損測量技術”項目啟動會在南京理工大學順利召開。工信部產業發展促進中心、項目牽頭單位南京理工大學相關領導和人員出席會議,項目組各課題負責人及研究骨幹參加會議。

由上海計量院承擔的課題三“測量係統的量值溯源、校準與誤差補償”將主要圍繞“矽基MEMS 高深寬比三維結構測量係統的量值溯源與關鍵技術指標驗證”開展高精度深寬比標準樣板的設計、加工、定標技術研究,並以準確賦值的標準樣板實現對項目開發的無損測量係統的進行量值溯源、校準與誤差分析,為項目儀器開發和關鍵技術指標提供計量保障。會上,課題負責人、上海計量院機械製造所所長、教授級高工傅雲霞首先針對課題的背景意義、研究目標、課題總體思路、進度安排等方麵做了全麵陳述,並對課題組織管理、jichubaozhangyulichengbeikaohedengjinxinglehuibaoheshuoming。yuhuizhuanjiarenzhenshenyileketidegexiangneirong,duishishifanganzongtishangbiaoshikendingdetongshi,tichuleyixieqieshikexingdegaijinjianyi,jinyibuwanshanleketishishiluxianyufangan。
近年來,上海計量院聚焦集成電路、商用飛機、新能源汽車、高端製造等戰略性新興產業,以產線業務對接、產學研融合、聯合實驗室為抓手,為上海市科創中心建設提供計量技術支撐服務。同時,麵向產業發展關鍵技術難點、技術瓶頸等,陸續開展國家重大儀器開發專項、國家重點研發計劃、國防計量重大專項、國家市場監管總局科技項目、市科委重大科技項目等國家、地方的重點建設項目。
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